Abordagem para monitoramento tecnológico e mercadológico em um centro de tecnologia em nanomateriais
DOI:
https://doi.org/10.20397/2177-6652/2023.v23i1.2354Palavras-chave:
monitoramento tecnológico, filamentos nanoestruturados, manufatura FDM, patentometria, RoadmappingResumo
Título: Abordagem para monitoramento tecnológico e mercadológico em um centro de tecnologia em nanomateriais.
Objetivo: propor uma abordagem metodológica para o monitoramento da evolução e avaliação do potencial de aplicação mercadológica de novas tecnologias, discutindo sua aplicação em um centro de tecnologia em nanomateriais (CTNano / UFMG) e visando difusão de novas tecnologias para a sociedade e geração de valor para a organização.
Metodologia: informações obtidas nos estudos de patentes e documentos de mercado são combinadas em um mapa inspirado nos modelos de Roadmapping, que apresenta possíveis caminhos de atuação do Centro de Tecnologia em nível estratégico. Um teste piloto dessa abordagem é realizado com uma tecnologia de filamentos poliméricos nanoestruturados para impressoras tipo fused deposition modeling (FDM).
Originalidade: a abordagem proposta é inovadora por considerar as particularidades de centros de tecnologia e combinar princípios de métodos consolidados distintos como patentometria e Roadmapping.
Principais resultados: além da abordagem de monitoramento como proposta metodológica, no caso aplicado são identificados dois focos potenciais de atuação para a organização: (i) busca de licenciamento de patente junto a fabricantes de insumos para impressoras FDM e (ii) prospecção de projetos com empresas envolvidas em manufatura aditiva para produção industrial.
Contribuição metodológica: é oferecido um passo-a-passo para o monitoramento tecnológico e mercadológico replicável em outros centros de tecnologia e/ou empresas intensivas em pesquisa e desenvolvimento.
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